Descrição:
Testador para CI´s digitais, Testes de dispositivos digitais como, TTL 54/74, CMOS, memórias, interfaces, periféricos, microprocessadores e LSI, Função search - permite que circuitos integrados desconhecidos sejam localizados de acordo com a sua biblioteca interna.
Sistema capaz de detectar falhas intermitentes e de temperaturas em circuitos integrados. Testes realizados nos modos: Single Loop, False loop, True loop, Informação de diagnóstico no display por pino individualmente.
Possibilita realizar testes de Circuitos integrados SMD’s através de adaptadores (não inclusos).
Especificações Técnicas:
- Teste funcional para componentes Digitais out-of-circuit
- Testador Digital com LCD de 2 linhas x 16 caracteres.
- Comunicação USB(Cabo não incluso)
- Conector ZIF de 40 vias
- Teste em modo Single, Loop, True Loop e False Loop
- Localizador de componentes raspados
- Verificação da integridade do testador